低功耗集成电路特性测试解决方案
提供全面的低功耗IC特性测试与分析方案，支持功耗、时序和性能验证
测试系统配置
主要设备
- B1500A参数分析仪
- CX3300功耗分析仪
- N6705C电源分析仪
- Infiniium示波器
软件平台
- EasyEXPERT软件
- 功耗分析工具
- 数据采集系统
- 自动化测试套件
功耗测量
静态功耗
- 待机功耗
- 漏电流
- 静态电流
- 功耗分布
动态功耗
- 切换功耗
- 工作功耗
- 峰值功耗
- 平均功耗
时序分析
基本参数
- 建立时间
- 保持时间
- 传播延迟
- 时钟特性
高级测量
- 抖动分析
- 眼图测试
- 边沿速率
- 时序裕度
漏电流测试
关键参数
- 亚阈值漏电
- 栅极漏电
- 结漏电流
- 基板电流
特性分析
- 温度依赖
- 电压依赖
- 工艺影响
- 长期稳定性
瞬态特性
动态响应
- 电源启动
- 模式切换
- 负载响应
- 恢复时间
性能指标
- 过冲量
- 建立时间
- 稳定性
- 纹波特性
温度特性
温度测试
- 功耗随温
- 漏电随温
- 时序随温
- 阈值漂移
热分析
- 热阻测量
- 结温估算
- 热分布
- 散热特性
可靠性验证
应力测试
- 高温老化
- 电压应力
- 温度循环
- 长期稳定性
性能退化
- 参数漂移
- 功耗变化
- 时序变化
- 寿命评估